图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理
X射线荧光的产生原理
X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。
460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室
460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。
而紧凑的机身，却拥有最大可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。
识别度高的LED显示灯
产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。
为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。
凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。
简洁的界面
在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
在测定界面上可以直接切换准直器
可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。
同时，选定的直径用黄色圆圈表示。
自动保存样品图像
测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。
测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。
使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）
同样适用于连续分析
PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。
采用高性能的SDD检测器，确保硬件最佳化，具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。
高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-
高性能的SDD检测器与最佳化的光学系统和一次滤光片的组合，实现前所未有的高灵敏度。
从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。
高速 –分析速度最大可提高10倍-
SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到最大限度的发挥。
测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系
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实际样品的比较
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分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 |
高分辨率
无需液氮
SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。
检测元素范围
· 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。
· 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。
